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泰瑞达交付第8000台J750半导体测试系统
2024年05月21日
2024年5月21日， 全球先进的自动测试设备供应商泰瑞达（NASDAQ:TER）宣布，与独立第三方集成电路测试服务企业伟测科技共同达成一项里程碑式结果，暨顺利交付第 8,000 台 J750 半导体测试平台。 泰瑞达 J750 测试机...
泰瑞达
半导体
集成电路测试
IC测试基本原理与ATE测试向量生成
2014年08月26日
集成电路测试(IC测试)主要的目的是将合格的芯片与不合格的芯片区分开，保证产品的质量与可靠性。随着集成电路的飞速发展，其规模...
集成电路测试